Trường Điện - Điện tử

https://seee.hust.edu.vn

Hội thảo Converging Biomedical Engineering, Smart Healthcare, Next-Gen IC Design

Hội thảo chuyên đề BioFusion 2025, được tổ chức bởi Trường Điện-Điện tử, Đại học Bách Khoa Hà Nội (HUST-SEEE). Hội thảo tập trung vào việc thúc đẩy sự giao thoa giữa kỹ thuật y sinh, chăm sóc sức khỏe thông minh và thiết kế vi mạch tích hợp thế hệ mới.
BioFusion poster 01

BioFusion poster 01

Gửi các thầy cô, các đồng nghiệp và các bạn sinh viên thông tin về hội thảo chuyên đề BioFusion 2025, được tổ chức bởi Trường Điện-Điện tử, Đại học Bách Khoa Hà Nội (HUST-SEEE), sẽ diễn ra vào ngày 11/07/2025 từ 14:00 đến 17:00 tại Phòng Hội nghị C1, HUST. 
Với chủ đề "Converging Biomedical Engineering, Smart Healthcare, Next-Gen IC Design", hội thảo tập trung vào việc thúc đẩy sự giao thoa giữa kỹ thuật y sinh, chăm sóc sức khỏe thông minh và thiết kế vi mạch tích hợp thế hệ mới. 
 Các diễn giả nổi bật bao gồm:
1. PGS. TS. Hanh-Phuc Le (UC San Diego), với bài trình bày "Brain Machine Interface: from Stimulation to a Closed-Loop Neural-Treatment Systems"
2. TS. Hue Ta-Thi Kim (Đại diện cty CP công nghệ ISOFH, đồng thời Giám đốc CTĐT tài năng, SEEE-HUST), sẽ giới thiệu về "Nền tảng AIOMT trong Bệnh viện thông minh" 
3. Dr. Linh Nguyen-Quang (Bệnh viện Trung ương 108), với chủ đề "Ứng dụng AI trong phân tích sóng não (EEG) của bệnh nhân"
4. Nhóm nghiên cứu BKIC, BME của Trường Điện-Điện tử có bài giới thiệu về nền tảng y sinh đã và đang được triển khai cho một nhóm nghiên cứu đa ngành từ Thiết kế cảm biến, điện cực; Vi mạch thu tích hợp bộ chuyển đổi ADC; Truyền thông không dây; Xử lý tín hiệu; Apps ứng dụng, v.v..
5. Một phiên "panel discussion" cho phép thầy cô, các đồng nghiệp, các bạn sinh viên có cơ hội được trao đổi trực tiếp với diễn giả, doanh nghiệp cũng như các bác sĩ có nghiên cứu về những kỹ thuật mới liên quan đến y sinh! 
 Kính mời thầy cô, các đồng nghiệp và các bạn sinh viên quan tâm đăng ký tham dự ngay qua mã QR hoặc liên kết Facebook chính thức!
 
Bạn đã không sử dụng Site, Bấm vào đây để duy trì trạng thái đăng nhập. Thời gian chờ: 60 giây